LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-12-07

簡要描述：LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù)，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級(jí)的選項(xiàng)。

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產(chǎn)品詳情

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KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù)，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級(jí)的選項(xiàng)。
系統(tǒng)可定制的涂層測量

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2178）并通過渦流法測量非磁性導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層的厚度（根據(jù)DIN EN ISO 2360）。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042應(yīng)用
可靠的技術(shù)與舒適的工具相結(jié)合，例如將厚度值顯示為模擬指針，類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費(fèi)選擇，可以滿足有抱負(fù)的用戶的所有愿望。

LEPTOSKOP 2042是一款經(jīng)濟(jì)型儀器，電池使用壽命超過100小時(shí)。

該儀器會(huì)記錄操作時(shí)間和測量次數(shù)，因此這些重要參數(shù)本身可用于正確跟蹤測試設(shè)備。

供貨范圍內(nèi)包括彩色橡膠保護(hù)套，并具有防滑保護(hù)功能，可在工業(yè)環(huán)境中保護(hù)儀器。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點(diǎn)：
大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米，帶照明
校準(zhǔn)選項(xiàng)：
出廠前已校準(zhǔn)，可立即進(jìn)行測量
在未知涂層上校準(zhǔn)*
零位校準(zhǔn)*
在未涂覆的基材上進(jìn)行一次和多箔校準(zhǔn)*
校準(zhǔn)涂層材料*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以單獨(dú)存儲(chǔ)在單獨(dú)的校準(zhǔn)文件中，也可以從那里重新加載。

可選擇的顯示模式，以最佳地適應(yīng)測量任務(wù)*
輸入和監(jiān)控限額*
在Windows©下可以輕松管理文件來存儲(chǔ)讀數(shù)*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統(tǒng)計(jì)*
統(tǒng)計(jì)評估多達(dá)999個(gè)讀數(shù)
最小，最大，平均值，讀數(shù)數(shù)量，標(biāo)準(zhǔn)偏差，限值監(jiān)控
局部厚度和平均涂層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值一目了然

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型：
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級(jí)別：
基本 -質(zhì)量可靠的基本功能
統(tǒng)計(jì) -附加統(tǒng)計(jì)評估
統(tǒng)計(jì)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ) -統(tǒng)計(jì)評估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

如果需要，可以隨時(shí)將量規(guī)升級(jí)到高級(jí)和/或?qū)I(yè)級(jí)別。升級(jí)過程通過代碼執(zhí)行，可以在現(xiàn)場輸入代碼以解鎖模塊“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”。如果要為新的測量需求添加功能，則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進(jìn)行升級(jí)或購買新儀表。

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術(shù)數(shù)據(jù)

串行接口	用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
電源	通過電池，USB或電源裝置
測量范圍	0-20000 µm（取決于探頭）
測量率	每秒高達(dá)2個(gè)讀數(shù)
存儲(chǔ)	最高 9999個(gè)讀數(shù)（最多140個(gè)文件）
測量不確定度（校準(zhǔn)后）	涂層厚度<100 µm：讀數(shù)的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數(shù)的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數(shù)的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數(shù)的5％+ /- 100 µm

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件

測試塊和校準(zhǔn)箔探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭定位輔助 -適用于所有微型探針 PC軟件iCom-用于數(shù)據(jù)傳輸和整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理 PC軟件EasyExport-用于將單個(gè)讀數(shù)或完整文件輕松導(dǎo)出到Windows©程序

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