產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

無損檢測(cè)

槽楔彈性模量?jī)x 壁厚測(cè)量?jī)x 超聲波壁厚測(cè)量?jī)x 附著力測(cè)試儀槽楔塊對(duì)比敏感度計(jì) 校正板空化計(jì) 相控陣探傷儀超聲波空化儀針孔相機(jī) 測(cè)式儀 X射線管壓力指示膜激光膠片數(shù)字化儀 CR系統(tǒng) 原位雜交儀電暈相機(jī) 磁通門計(jì) 安檢套件安檢儀測(cè)試箱掃描儀換能器狹縫相機(jī) 磁導(dǎo)率儀輻射力天平

相關(guān)文章

查看全部

產(chǎn)品中心/ products

您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - - 無損檢測(cè) - QRM-MicroCT-Barpattern-NANOQRM-MicroCT-Barpattern-NANO MicroCT測(cè)試模體

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO MicroCT測(cè)試模體

產(chǎn)品型號(hào)：QRM-MicroCT-Barpattern-NANO
更新時(shí)間：2025-05-14

簡(jiǎn)要描述：多年來，已經(jīng)提出了許多評(píng)估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法

在線咨詢

產(chǎn)品詳情

多年來，已經(jīng)提出了許多評(píng)估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點(diǎn)尺寸。這就是為什么許多測(cè)試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實(shí)空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統(tǒng)的機(jī)械精度。與持續(xù)時(shí)間相對(duì)較短的2D測(cè)試相比，所需的時(shí)間穩(wěn)定性要求更為嚴(yán)格。最后，處理和重建算法對(duì)3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。

MicroCT的3D空間分辨率測(cè)試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom

評(píng)估3D空間分辨率的一個(gè)很好的工具是可用德國(guó)QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個(gè)放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個(gè)分辨率測(cè)試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺(tái)式高分辨率微CT為例。

可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測(cè)試對(duì)象（例如鋁銷）的掃描的測(cè)試方法。3D空間分辨率通過調(diào)制傳遞函數(shù)進(jìn)行量化。另外，給出了確定對(duì)比靈敏度的指令。

來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內(nèi)微型CT進(jìn)行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO MicroCT測(cè)試模體

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
柱狀部分：
直徑：5.2 mm
總長(zhǎng)：19.1 mm
材料：致密塑料

芯片部分：
直徑：2.96 mm
總長(zhǎng)：0.66 mm
材料：硅
芯片上圖樣尺寸范圍：1µm至10µm
圖樣深度：5µm至15µm
對(duì)比材料：硅/空氣

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡芯片上有一個(gè)傾斜的邊緣(字母“L”字樣)以及一個(gè)西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結(jié)構(gòu)均以這樣的方式排布于芯片上，從而使用戶僅通過一次曝光和測(cè)量就可以對(duì)整個(gè)芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評(píng)估。
作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展，我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO！

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡技術(shù)指標(biāo)
基礎(chǔ)材料：	固體塑料（切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm）
模體直徑：	5.2毫米
高度：	19毫米
硅芯片的措施：	3 x 3 x 0.66毫米
芯片上的結(jié)構(gòu)（分辨率）：	分別為1至10 µm。500至50 LP / mm
芯片材質(zhì)：	硅
圖案對(duì)比	硅/空氣

SAG: QRM-MicroCT-Barpattern-NANO,MicroCT-Barpattern-NANO測(cè)試卡,micro-CT,nano-CT,微型CT測(cè)試模體,納米顯微CT柱狀測(cè)試卡

在線咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：HPX-1 PLUSCARESTREAM HPX-1 PLUS CR系統(tǒng)
下一篇：DUPLEX IQI-D13-D15KOWOTEST ISO 19232雙絲像質(zhì)計(jì)，KOWOTEST雙絲像質(zhì)計(jì)

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO MicroCT測(cè)試模體

MicroCT的3D空間分辨率測(cè)試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡 技術(shù)指標(biāo)

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：

QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡
技術(shù)指標(biāo)